Der originale Open-Source Speicher-Tester für Retro-Computer — direkt vom Entwickler
Schnelles und zuverlässiges Testen von Vintage-DRAM- und SRAM-Chips. Von C64 und Amiga bis Apple II und ZX Spectrum.
Bezugsquellen Auf GitHub ansehen
Schnelles, zuverlässiges Testen von Speicherchips der späten 70er bis frühen 90er — von 8-Bit bis 32-Bit Systemen wie C64, C128, Amiga, Atari, ZX Spectrum, BBC Micro, Apple IIe und viele mehr.
Chip einsetzen, DIP-Switch auf die Beinchenzahl stellen, Reset drücken. Der Tester erkennt den Chiptyp automatisch und durchläuft die vollständige Diagnose. Keine Menüs, keine Algorithmus-Auswahl, kein Datenblatt nötig. Das Ergebnis erscheint auf dem OLED-Display oder als grüne/rote LED — eindeutiges Gut/Schlecht, weil sich ein defekter Speicherchip ohnehin nicht reparieren lässt.
Beinchenzahl am DIP-Switch einstellen — der Tester erkennt den Chiptyp automatisch und durchläuft alle Tests selbstständig. Keine Algorithmus-Auswahl, keine Menüs, kein Datenblatt nötig.
Vollständiger Test einer 41256 in unter 8 Sekunden. Eine ganze Kiste Chips in Minuten statt Stunden.
Speichermuster, Nebensprechen, Adressleitungsprüfung, Haltezeit, CAS-Before-RAS Refresh, Fast Page Mode, Static Column Mode, Masseschluss-Erkennung. Gleicher Chip → gleiche Diagnose, immer.
Kurzschlussschutz, Strombegrenzung, Masseschluss-Erkennung. Selbsttest-Modus integriert zur Verifikation der Tester-Hardware selbst.
Kaputt ist kaputt. Klares, gut lesbares Gut/Schlecht-Ergebnis. Keine verwirrenden Diagnose-Details für Chips, die sich ohnehin nicht reparieren lassen.
Hardware, Firmware, Schaltpläne auf GitHub unter GPLv3. Jede Test-Aussage ist im Quellcode überprüfbar. Keine Blackbox.
Der Tester sagt nicht nur "gut" oder "schlecht" — er identifiziert den konkreten Fehler. Die folgenden Beispiele zeigen simulierte Fehlerszenarien, um zu demonstrieren, was der Tester erkennt:
Ein häufiges Szenario in der Retro-Reparatur: 4164-Chips, bei denen einer oder mehrere der vier Quadranten defekt sind. Solche Chips wurden früher als 32K×1 (3732 oder 4532) weiterverkauft, abhängig davon welche Hälfte funktionstüchtig blieb. Der Tester identifiziert diese Fälle optional — nützlich wenn man tatsächlich 32K-Chips braucht, abschaltbar wenn nicht.
Testzeiten gelten für den vollständigen Test inklusive Mustertests, Retention-Check, CAS-Before-RAS Refresh, Fast Page Mode, Static Column Mode und Adressleitungsprüfung. Die Zeiten entsprechen der aktuellen Firmware; laufende Firmware-Entwicklung verbessert weiterhin Geschwindigkeit und ergänzt Chip-Support.
| Chip | Kapazität | Testzeit | Modus | Hinweise |
|---|---|---|---|---|
| 4816 | 16K × 1 | 1,6 s | Fast Page | |
| 3732 / 4532 | 32K × 1 | 2,8 s | Fast Page | Teilweise gute 4164-Chips |
| 4164 | 64K × 1 | 2,8 s | Fast Page | C64, ZX Spectrum, viele mehr |
| 41256 | 256K × 1 | 7,4 s | Fast Page | |
| 41257 | 256K × 1 | 7,4 s | Nibble Mode | Burst-Variante des 41256 |
| 4416 | 16K × 4 | 4,2 s | Fast Page | |
| 4464 | 64K × 4 | 6,4 s | Fast Page | |
| 411000 | 1M × 1 | 25,9 s | Fast Page | |
| 44256 / 514256 | 256K × 4 | 4,1 s | Fast Page | DIP & ZIP Gehäuse |
| 44258 | 256K × 4 | 4,1 s | Static Column | Static-Column-Variante des 44256 |
| 514400 | 1M × 4 | 12,8 s | Fast Page | DIP & ZIP Gehäuse |
| 514402 | 1M × 4 | 12,8 s | Static Column | Static-Column-Variante des 514400 |
| 4027 * | 4K × 1 | 1,3 s | Fast Page | * Benötigt 4116-Adapter-Board |
| 4116 * | 16K × 1 | 1,6 s | Fast Page | * Benötigt 4116-Adapter-Board |
Unterstützung für 2114 SRAM und weitere Chip-Typen ist in aktiver Firmware-Entwicklung.
Direkt vom Entwickler erhältlich — vorbestücktes SMD-Board, vollständig getestet, fertig zum Auflöten der Durchsteck-Komponenten (etwa 30 Minuten Aufwand).
Erforderlich zum Testen von 4027- und 4116-DRAM-Chips. Erzeugt die +12V- und −5V-Versorgungsspannungen mit integriertem Schutz.
Sowohl die SMD- als auch die Durchsteck-Version sind als Community-PCB-Projekte auf PCBWay verfügbar. Alle Gerber-Files, Schaltpläne und Firmware liegen auf GitHub.
Sämtliche Schaltpläne, PCB-Dateien, Firmware-Quellcode und Test-Algorithmen sind öffentlich auf GitHub unter GPL v3. Jede Test-Aussage auf dieser Seite lässt sich durch Lesen des Quellcodes verifizieren.
Das ist eine bewusste Entscheidung: Diagnose-Werkzeuge sind nützlicher, wenn ihre Methodik überprüfbar ist. Anwender können bestätigen, dass die dokumentierten Tests tatsächlich wie beschrieben ablaufen, Grenzen erkennen und die Firmware für eigene Anwendungsfälle anpassen.
Pull Requests, Issues und Forks sind willkommen.